1. Boundary-scan test
المؤلف: / by Harry Bleeker, Peter van den Eijnden, and Frans de Jong
المکتبة: مكتبات الكلية التقنية بجامعة طهران (طهران)
موضوع: Boundary scan testing,Printed circuits -- Design and construction
رده :
QA
931
.
B5
1993
2. Boundary-scan test
المؤلف: / by Harry Bleeker, Peter van den Eijnden, and Frans de Jong
المکتبة: مكتبات الكلية التقنية بجامعة طهران (طهران)
موضوع: Boundary scan testing,Printed circuits--Design and construction.
رده :
TK
7868
.
P7B57
1993
